
XDV-u
通過創新的X-Ray多細管光學聚焦及高能量解像度的半導體接收器
XDV-u是一部測量極小零件中的鍍層厚度及成份分析的理想儀器
例如:電路板、連接器及引線框的測量。
XDV-u配置了一個快速移動及準確對位的XY(Z)測量桌
很容易便可以進行位置編程式的測量
平均格子式的測量是十分容易便可以完成的。
深圳市中測古德科技有限公司座落于深圳西部工業重鎮沙井,集研發、生產、進口品牌X-Ray膜厚檢測儀器銷售及技術服務為一體,給企業提供更為便捷、專業、全面的用機服務。公司與多家國外知名企業建立了長期良好的...
查看更多